介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；介电常数测试仪的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。
 

　　介电常数测试仪以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为。

　　仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

　　介电常数测试仪可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试;

　　同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如:电厂、*实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。
 

　　那么介电常数测试仪的介电强度的影响因素有哪些呢？

　　塑料的电击穿机理：介电击穿机理可分为电击穿、热击穿、化学击穿、放电击穿等，往往是多种机理综合发生。通常把不随温度变化的击穿称为电击穿，把随温度变化的击穿称为热击穿。热击穿的外部表现是介电强度随温度升高而迅速下降，与施加电压作用的长短有关；与电场中产生的热量大于它能散热的热量，使其内部温度不断升高。温度升高导致其电阻下降，流经试样电流增大，产生的热量更多，如此循环不已，致使介质转变为另一种聚焦态，失去耐电压能力，材料被破坏。电击穿的特点是介电强度与周围介质的电性能有关；击穿点常常出现在电边缘其至电以外。

　　介电强度测试的影响因素：电压波形及电压作用时间影响。材料在电场作用下，初始时单位时间内材料内部产生的热量大于介质散发出去的热量，进而介质温度升高，温度的升高是一个由快转满的，若升压速度较慢后发生材料击穿热击穿的成分较大。作用时间的影响多因热量积累而使击穿电压值随电压作用增加而下降，处于热击穿形式的试样，基本上随升压速度的提高击穿强度也增大。因此，一般规定试样击穿电压低于20kv时升压速度为1.0kv/s；大于或等于20kv时升压速度为2.0kv/s。电倒角的影响：电边缘处电场强度远远高于内部，但边缘效应难消除。为避免电边缘成一直角，需采用一定倒角r。标准中规定r=2.50mm。

　　媒质电性能影响；高压击穿试验往往把样品放在一定媒质（如变压器油）中，其目的是为缩小试样尺寸防止飞弧。但媒质本身的电性能对属于电击穿为主的材料有明显影响，而以热击穿为主的材料影响小，故标准中对奥球油的击穿电压VB＞=25kv/2.5mm。