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四探针方阻电阻率测试仪
参考价:

型号:

更新时间:2024-12-20  |  阅读:2190

详情介绍

四探针方阻电阻率测试仪仪描述:

采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.


参照标准:

硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国标设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

.适用范围:

适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表

用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

规格型model

LST-331

1.方块电阻范围

10^-5~2×10^5Ω/□

2.电阻率范围

10^-6~2×10^6Ω-cm

测试电流范围

0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

4.电流精度

±0.1%

5.电阻精度

≤0.3%

6.显示读数

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

普通单电测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W

9.误差

≤4%(标准样片结果)

10.选购功能

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻.

11.测试探头

探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

12.标准电阻(选购)

规格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

四探针方阻电阻率测试仪注意事项:

 1.检查仪器后面板电压量程是否置于10V档,电流电阻量程是否置于104档。
  2.接通电源调零,(注意此时主机不得与屏蔽箱线路连接)在“Rx"两端开路的情况下,调零使电流表的显示为0000。然后关机。
  3.将待测试样平铺在不保护电极正中央,然后用保护电极压住样品,再插入被保护电极(不保护电极、保护电极、被保护电极应同轴且确认电极之间无短路)。
  4.测体积电阻时测试按钮拨到Rv边,测表面电阻时测试按钮拨到Rs边,
  5.接好测试线,将测试线将主机与屏蔽箱连接好。量程置于104档,打开主机后面板电源开关按钮。从仪器后面板调电压按钮到所要求的测量电压。(比如:GBT 1692-2008 硫化橡胶 绝缘电阻率的测定 标准中注明要求在500V电压进行测定,那么电压就要升到500V)
  6.电流电阻量程按钮从低档位逐渐拨,每拨一次停留1-2秒观察显示数字,当被测电阻大于仪器测量量程时,电阻表显示“1",此时应继续将仪器拨到量程更高的位置。测量仪器有显示值时应停下,在1min的电化时间后测量电阻,当前的数字乘以档次即是被测电阻。
  7.测试完毕先将量程拨至(104)档,然后将测量电压拨至10V档,后将测试按钮拨到中央位置后关闭电源。然后进行下一次测试。
  8.应在“Rx"两端开路时调零,一般一次调零后在测试过程中不需再调零。
  9.禁止将“RX"两端短路,以免微电流放大器受大电流冲击。


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