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介电常数介质损耗测定仪
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更新时间:2024-05-15  |  阅读:2822

详情介绍

 

一、介电常数介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。

二、介电常数介质损耗测试仪主要技术特性:

Q 值测量范围:       2 ~ 1023,量程分档:30100﹑300﹑1000,自动换档或手动换档

固有误差:≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

工作误差:≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

电感测量范围:       4.5nH ~ 140mH

电容直接测量范围:   1 ~ 200pF

主电容调节范围:     18 ~ 220pF

主电容调节准确度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %

信号源频率覆盖范围:  100kHz ~ 160MHz

频率分段 ( 虚拟 ): 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz

频率指示误差        :3 × 10 -5 ± 1 个字

三、介电常数介质损耗测试仪夹具工作特性

1.平板电容器:

片尺寸:Φ50mm/Φ38mm   可选

片间距可调范围:≥15mm

2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm

3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

4.测微杆分辨率:0.001mm

四、介电常数介质损耗测试仪配置:

主机一台

电感九支

夹具一套

随机文件一套

 

 

我公司所有产品质保三年终身维修,请放心购买。

 

 

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