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介电常数的测试方法
更新时间:2019-06-21      阅读:4570

          介电常数的测试方法

 介电常数测试方法与步骤

1. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

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2. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。

3. 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平整。

4. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。

1. 再松开两片片,把被测样品夹入平板电容上下片之间,调节S916测试夹具的测微杆,直到平板电容片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量(旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量),使主机处于谐振点(Q值值)上。

2. 取出S916测试夹具中的样品,这时主机又失去谐振(Q值变小),此时调节S916测试夹具的测微杆,使主机再回到谐振点(Q值值)上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.

3. 计算被测样品的介电常数:

     Σ=D2 / D4

 介质损耗测试方法与步骤

1. 分布容量的测量

a) 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端;

b) 将调谐电容器调到值附近500P左右,令这个电容是C1,

c) 按下仪器面板的频率搜索键,使测试回路谐振,谐振时Q的读数为Q1;

d) 将测试夹具接在“Cx”两端,放入材料,测出材料厚度后取出材料,调节主调电容,使测试电路重新谐振,此时可变电容器值为C2,Q值读数为Q2。

机构电容的有效电容为:Cz= C1-C2

分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0(参考电感的技术说明)的和

电容器损耗角正切为

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公式里的C0只是电感的分布电容值,不是主机软件显示的C0 

2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。

4. 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直。

5. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。再松开两片片,把被测样品夹入两片片之间,调节S916测试夹具的测微杆,到的平板电容片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2,改变主机上的主调电容容量,使主机处于谐振点(Q值值)上,然后按一次 主机上的小数点(tgδ)键,在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x,记住厚度D2的值。

6. 取出S916测试夹具中的样品,(保持S916测试夹具的平板电容片之间距不变)这时主机又失去谐振(Q值变小),再改变主机上的主调电容容量,使主机重新处于谐振点(Q值值)上。

7. 第二次按下 主机上的小数点(tgδ)键,显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1,同时显示介质损耗系数tn =.x x x x x ,即完成测试。

8. 出错提示,当出现tn =  NO 显示时,说明测试时出现了差错,发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。

附录 一

LKI-1电感组

LKI-1型电感组共包括不同电感量的电感9个,凡仪器在进行测试线圈的分布电容量,电容器的电容量,高频介质损耗,高频电阻和传输线特性阻抗等高频电路和元件的电性能时,必须用电感组作辅助工具。

本电感组有较高Q值,能使仪器测量时得到尖锐谐振点,因而增加其测量的准确度,各电感的有关数据如下表:

电感No

电感量

准确度%

Q值≥

分布电容约略值

谐振频率范围 MHz

适合介电常数测试频率

1

0.1μH

±0.05μH

180

5pF

20~70

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

5MHz

5

50μH

±5%

180

6pF

1~3.75

1.5MHz

6

100μH

±5%

190

6pF

0.75~2.64

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.25MHz

9

10mH

±5%

80

8pF

0.072~0.26

0.1MH


附录 二

一、如何测试带粘性超薄绝缘材料的介电常数

1 用锡箔纸覆胶在材料的两面,上下层锡箔纸不能接触。锡箔纸厚度为DX;(材料大小要和测试电大小基本一致)

2 超薄材料需要叠加:叠加方式如下

                                   250μ贴合6层后测试;

200μ贴合8层后测试;

175μ贴合9层后测试;

125μ贴合12层后测试;

100μ贴合15层后测试;

75μ贴合20层后测试;

50μ贴合30层后测试。

3 计算公式 

  Σ=(D2-2*DX)/D4

4 介质损耗系数测试同理

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